技術評估

從演算法到應用剖析量子硬體性能評估

本文探討量子硬體性能評估的演進，指出單純測試已不足以反映系統真實能力。文章提出一個多維度評估框架，整合量子體積（QV）、CLOPS 等關鍵指標，並明確區分演算法基準測試與應用基準測試。此框架強調測試電路的代表性、軟體工具鏈的影響，以及從基礎演算法到端到端解決方案的完整驗證流程，旨在建立更精確、全面的量子系統性能評估體系，以指導硬體優化與應用開發。